Электронный каталог

Статья

Omote, K.
High Resolution Grazing-Incidence in-Plane x-Ray Diffraction for Measuring the Strain of a Si Thin Layer / K.Omote // Journal of Physics: Condensed Matter. – 2010. – Vol.22, No.47. – p.474004. – URL: http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/22/47/474004. – Bibliogr.:14.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$