Электронный каталог

Статья

Zhang, W.
Leaky Ion Extraction Method for Dielectronic Recombination Strength Measurements at Electron-Beam Ion Traps / W.Zhang, [et al.] // Physical Review A : Atomic,Molecular,and Optical Physics. – 2010. – Vol.82, No.2, Pt.A. – p.020702(R). – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevA.82.020702.



Спец.(статьи,препринты) = С 332 б - Атомы и ионы в ловушках