Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Baker-Jarvis, J. - Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity:Mode-Matching Analysis
Baker-Jarvis, J. - Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity:Mode-Matching Analysis
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Baker-Jarvis, J.
Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity:Mode-Matching Analysis
Серия: NIST Technical Note
Издательство: NIST, 1996 г.
ISBN отсутствует
Автор: Baker-Jarvis, J.
Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity:Mode-Matching Analysis
Серия: NIST Technical Note
Издательство: NIST, 1996 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
С36.72 B-17
Baker-Jarvis, J.
Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity:Mode-Matching Analysis / J.Baker-Jarvis, B.Riddle. – Washington : NIST, 1996. – 13 p. : il. – (NIST Technical Note ; 1384).
С36.72
Индексный (книги) = С 36.72 - Физика диэлектриков. Структура диэлектриков. Кристаллическая решетка диэлектриков. Структурный анализ диэлектриков. Твердые растворы диэлектриков. Аморфные диэлектрики. Тонкие слои диэлектриков. Радиационные эффекты в диэлектриках. Механические свойства монокристаллов и диэлектриков
С36.72 B-17
Baker-Jarvis, J.
Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity:Mode-Matching Analysis / J.Baker-Jarvis, B.Riddle. – Washington : NIST, 1996. – 13 p. : il. – (NIST Technical Note ; 1384).
С36.72
Индексный (книги) = С 36.72 - Физика диэлектриков. Структура диэлектриков. Кристаллическая решетка диэлектриков. Структурный анализ диэлектриков. Твердые растворы диэлектриков. Аморфные диэлектрики. Тонкие слои диэлектриков. Радиационные эффекты в диэлектриках. Механические свойства монокристаллов и диэлектриков
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |