Электронный каталог

Книга
С378(04) X-10

X-Ray Optics and Microanalysis : Proceedings of the 20th International Congress (ICXOM 20), Karlsruhe, Germany, 15-18 Sept., 2009 / Ed.: M.A.Denecke, C.T.Walker. – Melville; New York : AIP, 2010. – XIV, 214 p. : il. – (AIP Conference Proceedings ; 1221). – URL: http://scitation.aip.org/dbt/dbt.jsp?KEY=APCPCS&Volume=1221&Issue=1. – Bibliogr.: ends of papers. – ISBN 978-0-7354-0764-0.

С378(04)
04


Индексный (книги) = С 378 - Отдельные виды излучений. Рентгеновские лучи. (Х-лучи). Гамма-лучи. Рентгеновская спектроскопия. Оптические явления. Отражение. Преломление. Интерференция. Дифракция. Ультрафиолетовые лучи. Инфракрасные лучи
Географический = Karlsruhe, FGR
Ключевых слов = X-ray optics
Ключевых слов = X-ray detection
Ключевых слов = photons
Ключевых слов = X-ray
Ключевых слов = synchrotron microprobes
Ключевых слов = surface analysis techniques
Ключевых слов = tomography
Ключевых слов = nuclear waste