Электронный каталог

Статья

Iverson, B.D.
Note: Thermal Analog to Atomic Force Microscopy Force-Displacement Measurements for Nanoscale Interfacial Contact Resistance / B.D.Iverson, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2010. – Vol.81, No.3. – p.036111. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3361157. – Bibliogr.:14.



Спец.(статьи,препринты) = С 325.7 - Фуллерены (Сn). Атомные кластеры