Электронный каталог

Статья

Bougerol, A.
Use of Laser to Explain Heavy Ion Induced SEFIs in SDRAMs / A.Bougerol, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.1, Pt.2. – p.272-278. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2009.2037418 . – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$