Электронный каталог

Статья

Irom, F.
Catastrophic Failure in Highly Scaled Commercial NAND Flash Memories / F.Irom, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2010. – Vol.57,No.1, Pt.2. – p.266-271. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2009.2035315 . – Bibliogr.:18.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$