Электронный каталог

Статья

Валеев, Р.Г.
Исследование тонких пленок Ge с аморфно-нанокристаллической структурой методами EXAFS-спектроскопии и АСМ / Р.Г.Валеев, [и др.] // Поверхность : Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования. – 2010. – No.2. – с.60-65. – URL: http://www.springerlink.com/content/8g273q28n76440kg/fulltext.pdf. – Библиогр.:9.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$