Электронный каталог

Статья

Zhang, X.-Y.
High Frequency Dielectric Properties Distribution of BiFeO&sub(3) Thin Film Using Near-Field Microwave Microscopy / X.-Y.Zhang, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2009. – Vol.80, No.11. – p.114701. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3258201. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$