Электронный каталог

Статья

Miao, B.
Radiation Induced Change in Defect Density in HfO&sub(2)-Based MIM Capacitors / B.Miao, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2009. – Vol.56,No.5, Pt.2. – p.2916-2924. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2009.2015314. – Bibliogr.:29.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$