Электронный каталог

Статья

Bennun, L.
A Method for Thickness Determination of Thin Films of Amalgamable Metals by Total-Reflection X-Ray Fluorescence / L.Bennun, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2009. – Vol.267, No.15. – p.2532-2537. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2009.04.018. – Bibliogr.:20.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$