Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Price, J. - Resonant Photoionization of Defects in Si/SiO&sub(2)/HfO&sub(2) Film Stacks Observed by Second-Ha...
Price, J. - Resonant Photoionization of Defects in Si/SiO&sub(2)/HfO&sub(2) Film Stacks Observed by Second-Ha...
Статья
Автор: Price, J.
Applied Physics Letters: Resonant Photoionization of Defects in Si/SiO&sub(2)/HfO&sub(2) Film Stacks Observed by Second-Ha...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Price, J.
Applied Physics Letters: Resonant Photoionization of Defects in Si/SiO&sub(2)/HfO&sub(2) Film Stacks Observed by Second-Ha...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Price, J.
Resonant Photoionization of Defects in Si/SiO&sub(2)/HfO&sub(2) Film Stacks Observed by Second-Harmonic Generation / J.Price, [a.o.] // Applied Physics Letters. – 2009. – Vol.95, No.5. – p.052906. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3202392 . – Bibliogr.:15.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.1 - Взаимодействие электрона с электроном (кроме параобразования) и атомами. Ионизация атомов частицами
Price, J.
Resonant Photoionization of Defects in Si/SiO&sub(2)/HfO&sub(2) Film Stacks Observed by Second-Harmonic Generation / J.Price, [a.o.] // Applied Physics Letters. – 2009. – Vol.95, No.5. – p.052906. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3202392 . – Bibliogr.:15.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.1 - Взаимодействие электрона с электроном (кроме параобразования) и атомами. Ионизация атомов частицами