Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Серегина, Е.В. - Использование проекционного метода для определения статистических характеристик решения дифференц...
Серегина, Е.В. - Использование проекционного метода для определения статистических характеристик решения дифференц...
Статья
Автор: Серегина, Е.В.
Поверхность: Использование проекционного метода для определения статистических характеристик решения дифференц...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Серегина, Е.В.
Поверхность: Использование проекционного метода для определения статистических характеристик решения дифференц...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Серегина, Е.В.
Использование проекционного метода для определения статистических характеристик решения дифференциального уравнения диффузии неосновных носителей заряда, генерированных в полупроводниковом материале широким электронным пучком / Е.В.Серегина, [и др.] // Поверхность : Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования. – 2009. – No.6. – с.80-95. – URL: http://www.springerlink.com/content/q0784t133q1n8968/fulltext.pdf. – Библиогр.:19.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Серегина, Е.В.
Использование проекционного метода для определения статистических характеристик решения дифференциального уравнения диффузии неосновных носителей заряда, генерированных в полупроводниковом материале широким электронным пучком / Е.В.Серегина, [и др.] // Поверхность : Рентгеновские,синхротронные и нейтронные исследования. – 2009. – No.6. – с.80-95. – URL: http://www.springerlink.com/content/q0784t133q1n8968/fulltext.pdf. – Библиогр.:19.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$