Электронный каталог

Статья

Xie, H.
Characterizing Piezoscanner Hysteresis and Creep Using Optical Levers and a Reference Nanopositioning Stage / H.Xie, [a.o.] // Review of Scientific Instruments. – 2009. – Vol.80, No.4. – p.046102. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3115184 . – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$