Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ломов, А.А. - Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
Ломов, А.А. - Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
Статья
Автор: Ломов, А.А.
Кристаллография: Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Ломов, А.А.
Кристаллография: Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А.А.
Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния / А.А.Ломов, [и др.] // Кристаллография. – 2009. – T.54,No.3. – с.410-417. – URL: http://www.maik.rssi.ru/abstract/cryst/9/cryst3_9p379abs.htm. – Библиогр.:19.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Ломов, А.А.
Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния / А.А.Ломов, [и др.] // Кристаллография. – 2009. – T.54,No.3. – с.410-417. – URL: http://www.maik.rssi.ru/abstract/cryst/9/cryst3_9p379abs.htm. – Библиогр.:19.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей