Электронный каталог

Статья

Некрасов, П.В.
Функциональный контроль микропроцессоров при проведении радиационных испытаний / П.В.Некрасов, [и др.] // Приборы и техника эксперимента. – 2009. – No.2. – с.48-52. – URL: http://www.springerlink.com/content/502277378347000n/fulltext.pdf. – Библиогр.:7.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = Ц 738.21 - Интегральные схемы. Микросхемотехника