Электронный каталог

Статья

Ablett, J.M.
Phase Identification of Self-Forming Cu-Mn Based Diffusion Barriers on p-SiOC:H and SiO&sub(2) Dielectrics Using x-Ray Absorption Fine Structure / J.M.Ablett, [a.o.] // Applied Physics Letters. – 2009. – Vol.94, No.4. – p.042112. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3068500. – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей