Электронный каталог

Статья

Дунаевский, М.С.
Применение структурированных атомными ступенями поверхностей 6H-SiC (0001) для калибровки наноперемещений в сканирующей зондовой микроскопии / М.С.Дунаевский, [и др.] // Журнал технической физики.Письма. – 2009. – T.35, No.1. – с.98-104. – URL: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/pjtf/2009/01/p98-104.pdf. – Библиогр.:7.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$