Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Smith, B. J. - Capacitance - Voltage Measurements for Determining Impurity Profiles in Semiconductors
Smith, B. J. - Capacitance - Voltage Measurements for Determining Impurity Profiles in Semiconductors
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Smith, B. J.
Capacitance - Voltage Measurements for Determining Impurity Profiles in Semiconductors
Серия: AERE-R
Издательство: AERE, 1972 г.
ISBN отсутствует
Автор: Smith, B. J.
Capacitance - Voltage Measurements for Determining Impurity Profiles in Semiconductors
Серия: AERE-R
Издательство: AERE, 1972 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
Ц71 S-68
Smith, B.J.
Capacitance - Voltage Measurements for Determining Impurity Profiles in Semiconductors / B.J.Smith. – Harwell : AERE, 1972. – 10 p. : il. – (AERE-R ; 7037). – Bibliogr.:p.10.
Ц71
Индексный (книги) = Ц 71 - Радиотехнические измерения и измерительные приборы
Ц71 S-68
Smith, B.J.
Capacitance - Voltage Measurements for Determining Impurity Profiles in Semiconductors / B.J.Smith. – Harwell : AERE, 1972. – 10 p. : il. – (AERE-R ; 7037). – Bibliogr.:p.10.
Ц71
Индексный (книги) = Ц 71 - Радиотехнические измерения и измерительные приборы
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |