Электронный каталог

Статья

Belykh, S.F.
New Cs Sputter Ion Source with Polyatomic Ion Beams for Secondary Ion Mass Spectrometry Applications / S.F.Belykh, [et al.] // Review of Scientific Instruments. – 2007. – Vol.78, No.8. – p.085101. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2761021. – Bibliogr.:47.



Спец.(статьи,препринты) = С 345 н - Источники ионов и электронные пушки. Источники поляризованных ионов. Получение пучков поляризованных частиц