Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Holmstrom, E. - Threshold Defect Production in Silicon Determined by Density Functional Theory Molecular Dynamics...
Holmstrom, E. - Threshold Defect Production in Silicon Determined by Density Functional Theory Molecular Dynamics...
Статья
Автор: Holmstrom, E.
Physical Review B: Threshold Defect Production in Silicon Determined by Density Functional Theory Molecular Dynamics...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Holmstrom, E.
Physical Review B: Threshold Defect Production in Silicon Determined by Density Functional Theory Molecular Dynamics...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Holmstrom, E.
Threshold Defect Production in Silicon Determined by Density Functional Theory Molecular Dynamics Simulations / E.Holmstrom, [a.o.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2008. – Vol.78, No.4. – p.045202. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.78.045202. – Bibliogr.:51.
Спец.(статьи,препринты) = С 17 к - Расчеты по молекулярной динамике. Численное моделирование физических задач
Holmstrom, E.
Threshold Defect Production in Silicon Determined by Density Functional Theory Molecular Dynamics Simulations / E.Holmstrom, [a.o.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2008. – Vol.78, No.4. – p.045202. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.78.045202. – Bibliogr.:51.
Спец.(статьи,препринты) = С 17 к - Расчеты по молекулярной динамике. Численное моделирование физических задач
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics Vol.78, No.4
The American Physical Society, 07/2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics Vol.78, No.4
The American Physical Society, 07/2008 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ