Электронный каталог

Статья

Meckenstock, R.
Invited Review Article: Microwave Spectroscopy Based on Scanning Thermal Microscopy: Resolution in the Nanometer Range / R.Meckenstock // Review of Scientific Instruments. – 2008. – Vol.79, No.4. – p.041101. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2908445. – Bibliogr.:81.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$