Электронный каталог

Статья

Narasimham, B.
Effects of Guard Bands and Well Contacts in Mitigating Long SETs in Advanced CMOS Processes / B.Narasimham, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2008. – Vol.55,No.3, Pt.3. – p.1708-13. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2008.920260. – Bibliogr.:15.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$