Электронный каталог

Статья

Montes, E.J.
Single Event Upset Mechanisms for Low-Energy-Deposition Events in SiGe HBTs / E.J.Montes, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2008. – Vol.55,No.3, Pt.3. – p.1581-1586. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2007.893920. – Bibliogr.:17.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы