Электронный каталог

Статья

Паршин, А.С.
Спектроскопия характеристических потерь энергии отраженных электронов в тонких пленках системы Fe&sub(x)Si&sub(1-x) / А.С.Паршин, [и др.] // Журнал технической физики.Письма. – 2008. – T.34, No.9. – с.41-48. – URL: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/pjtf/2008/09/p41-48.pdf. – Библиогр.:14.



Спец.(статьи,препринты) = С 342 а - Потери энергии и пробеги заряженных частиц. Эффект Вавилова- Черенкова. Дельта-электрон. Ионизация внутренних оболочек при торможении