Электронный каталог

Книга (аналит. описание)

Аксенов, В.Л.
EXAFS-спектроскопия - метод исследования локальной атомной и электронной структуры нанообъектов / В.Л.Аксенов, А.Н.Артемьев, В.В.Ефимов, В.В.Квардаков, С.И.Тютюнников, В.Н.Шаляпин // Ядерная физика и нанотехнологии : Ядерно-физические аспекты формирования, изучения и применения наноструктур / Общ. ред.: А.Н.Сисакян ; Сост.: Г.М.Арзуманян, А.В.Рузаев. – Дубна : ОИЯИ, 2008. – p.179-189. – Библиогр.:5. – (ОИЯИ ; Р18-2008-33) .



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2008