Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Peng, C.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Статья
Peng, C.
Investigating the Degradation Mechanisms Caused by the TID Effects in 130 nm PDSOI I/O NMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, C.
Investigating the Degradation Mechanisms Caused by the TID Effects in 130 nm PDSOI I/O NMOS
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Peng, C.
miR-183 Cluster Scales Mechanical Pain Sensitivity by Regulating Basal and Neuropathic Pain Genes
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, C.
miR-183 Cluster Scales Mechanical Pain Sensitivity by Regulating Basal and Neuropathic Pain Genes
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Peng, C.
Influence of Buried Oxide Si*+ Implantation on TID and NBTI Effects for PDSOI MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, C.
Influence of Buried Oxide Si*+ Implantation on TID and NBTI Effects for PDSOI MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Peng, C.
Influence of Drain Bias and Flux on Heavy Ion-Induced Leakage Currents in SiC Power MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, C.
Influence of Drain Bias and Flux on Heavy Ion-Induced Leakage Currents in SiC Power MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Peng, C.
Investigation on the Fast Component Light Yield of BaF&sub(2):Y Crystal
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, C.
Investigation on the Fast Component Light Yield of BaF&sub(2):Y Crystal
б.г.
ISBN отсутствует