Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Li, X.
Characteristic of Displacement Defects in n-p-n Transistors Caused by Various Heavy Ion Irradiations
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Characteristic of Displacement Defects in n-p-n Transistors Caused by Various Heavy Ion Irradiations
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Asano, M.
Characteristics of Non-Irradiated and Irradiated Double SOI Integration Type Pixel Sensor
б.г.
ISBN отсутствует
Asano, M.
Characteristics of Non-Irradiated and Irradiated Double SOI Integration Type Pixel Sensor
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yahyaabadi, A.
Characteristics of Thermoluminescence LiF:Mg, Cu, Ag Nanophosphor
б.г.
ISBN отсутствует
Yahyaabadi, A.
Characteristics of Thermoluminescence LiF:Mg, Cu, Ag Nanophosphor
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ohuchi, H.
Characteristics of Unerasable and Reappearing Photostimulated Luminescence Signals in Over-Irradi...
б.г.
ISBN отсутствует
Ohuchi, H.
Characteristics of Unerasable and Reappearing Photostimulated Luminescence Signals in Over-Irradi...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, L.
Characterization and Local Magnetic Modification of Ion Irradiated GaMnAs
б.г.
ISBN отсутствует
Li, L.
Characterization and Local Magnetic Modification of Ion Irradiated GaMnAs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lefevre, J.
Characterization of a Silicon-Related Defect Detected by Its Excited Triplet State in Electron-Ir...
б.г.
ISBN отсутствует
Lefevre, J.
Characterization of a Silicon-Related Defect Detected by Its Excited Triplet State in Electron-Ir...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Paneta, V.
Characterization of Compositional Modifications in Metal-Organic Frameworks Using Carbon and Alph...
б.г.
ISBN отсутствует
Paneta, V.
Characterization of Compositional Modifications in Metal-Organic Frameworks Using Carbon and Alph...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Eidelman, K. B.
Characterization of Crystal Structure Features of a SIMOX Substrate
б.г.
ISBN отсутствует
Eidelman, K. B.
Characterization of Crystal Structure Features of a SIMOX Substrate
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Eldrup, M.
Characterization of Defect Accumulation in Neutron-Irradiated Mo by Positron Annihilation Spectro...
б.г.
ISBN отсутствует
Eldrup, M.
Characterization of Defect Accumulation in Neutron-Irradiated Mo by Positron Annihilation Spectro...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, C.-M.
Characterization of GigaRad Total Ionizing Dose and Annealing Effects on 28-nm Bulk MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, C.-M.
Characterization of GigaRad Total Ionizing Dose and Annealing Effects on 28-nm Bulk MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, C.-H.
Characterization of Heavy-Ion-Induced Single-Event Effects in 65 nm Bulk CMOS ASIC Test Chips
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, C.-H.
Characterization of Heavy-Ion-Induced Single-Event Effects in 65 nm Bulk CMOS ASIC Test Chips
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, F.
Characterization of Neutron Induced Damage Effect in Several Types of Metallic Multilayer Nanocom...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, F.
Characterization of Neutron Induced Damage Effect in Several Types of Metallic Multilayer Nanocom...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yoshida, T.
Characterization of Nitrogen Ion Implanted TiO&sub(2) Photocatalysts by XAFS and XPS
б.г.
ISBN отсутствует
Yoshida, T.
Characterization of Nitrogen Ion Implanted TiO&sub(2) Photocatalysts by XAFS and XPS
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Groenewold, G. S.
Characterization of Polymeric Films Subjected to Lithium Ion Beam Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Groenewold, G. S.
Characterization of Polymeric Films Subjected to Lithium Ion Beam Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
La Rosa, A.
Characterization of Proton Irradiated 3D-DDTC Pixel Sensor Prototypes Fabricated at FBK
б.г.
ISBN отсутствует
La Rosa, A.
Characterization of Proton Irradiated 3D-DDTC Pixel Sensor Prototypes Fabricated at FBK
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lam, T. Y.
Characterization of Proton Irradiated Copolymer Thin Films for Microelectromechanical System Appl...
б.г.
ISBN отсутствует
Lam, T. Y.
Characterization of Proton Irradiated Copolymer Thin Films for Microelectromechanical System Appl...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wan, Q.-M.
Characterization of Proton Irradiation-Induced Defect in the A508-3 Steel by Slow Positron Beam
б.г.
ISBN отсутствует
Wan, Q.-M.
Characterization of Proton Irradiation-Induced Defect in the A508-3 Steel by Slow Positron Beam
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, Z.
Characterization of Radiation Damage Caused by 23 MeV Protons in Multi-Pixel Photon Counter (MPPC)
б.г.
ISBN отсутствует
Li, Z.
Characterization of Radiation Damage Caused by 23 MeV Protons in Multi-Pixel Photon Counter (MPPC)
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Jianjun, C.
Characterization of Single-Event Transient Pulse Quenching Among Dummy Gate Isolated Logic Nodes ...
б.г.
ISBN отсутствует
Jianjun, C.
Characterization of Single-Event Transient Pulse Quenching Among Dummy Gate Isolated Logic Nodes ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yaqing, C.
Characterization of Single-Event Upsets Induced by High-LET Heavy Ions in 16-nm Bulk FinFET SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Yaqing, C.
Characterization of Single-Event Upsets Induced by High-LET Heavy Ions in 16-nm Bulk FinFET SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Benck, S.
Characterization of Solar Energetic H and He Spectra Measured by the Energetic Particle Telescope...
б.г.
ISBN отсутствует
Benck, S.
Characterization of Solar Energetic H and He Spectra Measured by the Energetic Particle Telescope...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hirokawa, S.
Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Hirokawa, S.
Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Duncan, A. R.
Characterizing Radiation and Stress-Induced Degradation in an Embedded Split-Gate NOR Flash Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Duncan, A. R.
Characterizing Radiation and Stress-Induced Degradation in an Embedded Split-Gate NOR Flash Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bonaldo, S.
Charge Buildup and Spatial Distribution of Interface Traps in 65-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrah...
б.г.
ISBN отсутствует
Bonaldo, S.
Charge Buildup and Spatial Distribution of Interface Traps in 65-nm pMOSFETs Irradiated to Ultrah...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hara, K.
Charge Collection and Field Profile Studies of Heavily Irradiated Strip Sensors for the ATLAS Inn...
б.г.
ISBN отсутствует
Hara, K.
Charge Collection and Field Profile Studies of Heavily Irradiated Strip Sensors for the ATLAS Inn...
б.г.
ISBN отсутствует