Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Доступно
1 из 1
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
На полку Доступно
1 из 1
Препринты
Chiodini, G.
Single Event Upset Rate of 140Mb/s Pixel-Data Serializer
ISBN отсутствует
Chiodini, G.
Single Event Upset Rate of 140Mb/s Pixel-Data Serializer
Серия: FERMILAB-Conf
FERMILAB, 2003 г.ISBN отсутствует
Заказать
Статья
Zhang, L.
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI with Bulk Si at 130 nm Technol...
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, L.
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI with Bulk Si at 130 nm Technol...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mauguet, M.
Single Events Induced by Heavy Ions and Laser Pulses in Silicon Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single Events Induced by Heavy Ions and Laser Pulses in Silicon Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bosser, A. L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Bosser, A. L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, R.
Single-Event Multiple Transients in Conventional and Guard-Ring Hardened Inverter Chains Under Pu...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R.
Single-Event Multiple Transients in Conventional and Guard-Ring Hardened Inverter Chains Under Pu...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Casey, M. C.
Single-Event Response of 22-nm Fully Depleted Silicon-on-Insulator Static Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Casey, M. C.
Single-Event Response of 22-nm Fully Depleted Silicon-on-Insulator Static Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Campola, M. J.
Single-Event Transient Case Study for System-Level Radiation Effects Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Campola, M. J.
Single-Event Transient Case Study for System-Level Radiation Effects Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, Z.
Single-Event Transient Characterization of a Radiation-Tolerant Charge-Pump Phase-Locked Loop Fab...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Z.
Single-Event Transient Characterization of a Radiation-Tolerant Charge-Pump Phase-Locked Loop Fab...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, Y. P.
Single-Event Transient Induced Harmonic Errors in Digitally Controlled Ring Oscillators
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Y. P.
Single-Event Transient Induced Harmonic Errors in Digitally Controlled Ring Oscillators
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam
б.г.
ISBN отсутствует
Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, Y. P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Y. P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tianqi, W.
Single-Event Upset Prediction in SRAMs Account for On-Transistor Sensitive Volume
б.г.
ISBN отсутствует
Tianqi, W.
Single-Event Upset Prediction in SRAMs Account for On-Transistor Sensitive Volume
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Xu, R.
Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS A...
б.г.
ISBN отсутствует
Xu, R.
Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS A...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Haran, A.
Single-Event Upset Tolerance Study of a Low-Voltage 13T Radiation-Hardened SRAM Bitcell
б.г.
ISBN отсутствует
Haran, A.
Single-Event Upset Tolerance Study of a Low-Voltage 13T Radiation-Hardened SRAM Bitcell
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Schauries, D.
Size Characterization of Ion Tracks in PET and PTFE Using SAXS
б.г.
ISBN отсутствует
Schauries, D.
Size Characterization of Ion Tracks in PET and PTFE Using SAXS
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Klimmer, A.
Size-Dependent Effect of Ion Bombardment on Au Nanoparticles on Top of Various Substrates: Thermo...
б.г.
ISBN отсутствует
Klimmer, A.
Size-Dependent Effect of Ion Bombardment on Au Nanoparticles on Top of Various Substrates: Thermo...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hong, M.
Size-Dependent Radiation Tolerance and Corrosion Resistance in Ion Irradiated CrN/AlTiN Nanofilms
б.г.
ISBN отсутствует
Hong, M.
Size-Dependent Radiation Tolerance and Corrosion Resistance in Ion Irradiated CrN/AlTiN Nanofilms
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Du, X.
Soft Error Evaluation and Vulnerability Analysis in Xilinx Zynq-7010 System-on Chip
б.г.
ISBN отсутствует
Du, X.
Soft Error Evaluation and Vulnerability Analysis in Xilinx Zynq-7010 System-on Chip
б.г.
ISBN отсутствует