Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Доступно
1 из 1
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Jay, A.
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon - Part II: Generation and Long-Time ...
б.г.
ISBN отсутствует
Jay, A.
Simulation of Single Particle Displacement Damage in Silicon - Part II: Generation and Long-Time ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Jay, A.
Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characte...
б.г.
ISBN отсутствует
Jay, A.
Simulation of Single-Particle Displacement Damage in Silicon - Part III: First Principle Characte...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wang, C.
Simulation of Synergistic Effects on Lateral PNP Bipolar Transistors Induced by Neutron and Gamma...
б.г.
ISBN отсутствует
Wang, C.
Simulation of Synergistic Effects on Lateral PNP Bipolar Transistors Induced by Neutron and Gamma...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Witulski, A. F.
Simulation of Transistor-Level Radiation Effects on System-Level Performance Parameters
б.г.
ISBN отсутствует
Witulski, A. F.
Simulation of Transistor-Level Radiation Effects on System-Level Performance Parameters
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yu, C.-H.
Simulation Study of Single-Event Burnout in Power Trench ACCUFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Yu, C.-H.
Simulation Study of Single-Event Burnout in Power Trench ACCUFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zuo, Y.
Simulations of Internal Charging Effects of Artificial Radiation Belt on Dielectric Material
б.г.
ISBN отсутствует
Zuo, Y.
Simulations of Internal Charging Effects of Artificial Radiation Belt on Dielectric Material
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pennicard, D.
Simulations of Radiation-Damaged 3D Detectors for the Super-LHC
б.г.
ISBN отсутствует
Pennicard, D.
Simulations of Radiation-Damaged 3D Detectors for the Super-LHC
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, X.
Simultaneous and Sequential Radiation Effects on NPN Transistors Induced by Protons and Electrons
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Simultaneous and Sequential Radiation Effects on NPN Transistors Induced by Protons and Electrons
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhen, Z.
Single Event Burnout Hardening of Enhancement Mode HEMTs with Double Field Plates
б.г.
ISBN отсутствует
Zhen, Z.
Single Event Burnout Hardening of Enhancement Mode HEMTs with Double Field Plates
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kastriotou, M.
Single Event Effect Testing with Ultrahigh Energy Heavy Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Kastriotou, M.
Single Event Effect Testing with Ultrahigh Energy Heavy Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Препринты
Chiodini, G.
Single Event Upset Rate of 140Mb/s Pixel-Data Serializer
ISBN отсутствует
Chiodini, G.
Single Event Upset Rate of 140Mb/s Pixel-Data Serializer
Серия: FERMILAB-Conf
FERMILAB, 2003 г.ISBN отсутствует
Заказать
Статья
Zhang, L.
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI with Bulk Si at 130 nm Technol...
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, L.
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI with Bulk Si at 130 nm Technol...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mauguet, M.
Single Events Induced by Heavy Ions and Laser Pulses in Silicon Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single Events Induced by Heavy Ions and Laser Pulses in Silicon Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bosser, A. L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Bosser, A. L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, R.
Single-Event Multiple Transients in Conventional and Guard-Ring Hardened Inverter Chains Under Pu...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R.
Single-Event Multiple Transients in Conventional and Guard-Ring Hardened Inverter Chains Under Pu...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Casey, M. C.
Single-Event Response of 22-nm Fully Depleted Silicon-on-Insulator Static Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Casey, M. C.
Single-Event Response of 22-nm Fully Depleted Silicon-on-Insulator Static Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует