Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Jung, S.
An Investigation of Single-Event Transients in C-SiGe HBT on SOI Current Mirror Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Jung, S.
An Investigation of Single-Event Transients in C-SiGe HBT on SOI Current Mirror Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Song, I.
An Investigation of the Use of Inverse-Mode SiGe HBTs as Switching Pairs for SET-Mitigated RF Mixers
б.г.
ISBN отсутствует
Song, I.
An Investigation of the Use of Inverse-Mode SiGe HBTs as Switching Pairs for SET-Mitigated RF Mixers
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Oyewande, O.
An Ion-Beam Surface Sputtering Approach to the Quest for Lead-Free Metal Halide Perovskite for So...
б.г.
ISBN отсутствует
Oyewande, O.
An Ion-Beam Surface Sputtering Approach to the Quest for Lead-Free Metal Halide Perovskite for So...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ren, Y.
An RHBD Bandgap Reference Utilizing Single Event Transient Isolation Technique
б.г.
ISBN отсутствует
Ren, Y.
An RHBD Bandgap Reference Utilizing Single Event Transient Isolation Technique
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hengzhou, Y.
An SEU/SET-Tolerant Phase Frequency Detector with Double-Loop Self-Sampling Technology for Clock ...
б.г.
ISBN отсутствует
Hengzhou, Y.
An SEU/SET-Tolerant Phase Frequency Detector with Double-Loop Self-Sampling Technology for Clock ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lopez, J. G.
An Upgraded Drift–Diffusion Model for Evaluating the Carrier Lifetimes in Radiation-Damaged Semic...
б.г.
ISBN отсутствует
Lopez, J. G.
An Upgraded Drift–Diffusion Model for Evaluating the Carrier Lifetimes in Radiation-Damaged Semic...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Marec, R.
Analysis in the Context of Space Radiation Hardness Assurance of Low Dose Rate Results Obtained w...
б.г.
ISBN отсутствует
Marec, R.
Analysis in the Context of Space Radiation Hardness Assurance of Low Dose Rate Results Obtained w...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ferraro, R.
Analysis of Bipolar Integrated Circuit Degradation Mechanisms Against Combined TID–DD Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Ferraro, R.
Analysis of Bipolar Integrated Circuit Degradation Mechanisms Against Combined TID–DD Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Myla, D. E.
Analysis of Changes in the Phase and Structural State Aluminum Alloy 1933 Surface Layer, Melted b...
б.г.
ISBN отсутствует
Myla, D. E.
Analysis of Changes in the Phase and Structural State Aluminum Alloy 1933 Surface Layer, Melted b...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Liu, C.
Analysis of DC Characteristics in PDSOI pMOSFETs Under the Combined Effect of NBTI and TID
б.г.
ISBN отсутствует
Liu, C.
Analysis of DC Characteristics in PDSOI pMOSFETs Under the Combined Effect of NBTI and TID
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kondo, S.
Analysis of Grain Boundary Sinks and Interstitial Diffusion in Neutron-Irradiated SiC
б.г.
ISBN отсутствует
Kondo, S.
Analysis of Grain Boundary Sinks and Interstitial Diffusion in Neutron-Irradiated SiC
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abbate, C.
Analysis of Heavy Ion Irradiation Induced Thermal Damage in SiC Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Abbate, C.
Analysis of Heavy Ion Irradiation Induced Thermal Damage in SiC Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tataroglu, A.
Analysis of Interface State and Series Resistance at MIS Structure Irradiated Under *6*0Co *g-Rays
б.г.
ISBN отсутствует
Tataroglu, A.
Analysis of Interface State and Series Resistance at MIS Structure Irradiated Under *6*0Co *g-Rays
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gaillardin, M.
Analysis of Nanowire Field-Effect Transistors SET Response: Geometrical Considerations
б.г.
ISBN отсутствует
Gaillardin, M.
Analysis of Nanowire Field-Effect Transistors SET Response: Geometrical Considerations
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hehr, B. D.
Analysis of Radiation Effects in Silicon Using Kinetic Monte Carlo Methods
б.г.
ISBN отсутствует
Hehr, B. D.
Analysis of Radiation Effects in Silicon Using Kinetic Monte Carlo Methods
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Secondo, R.
Analysis of SEL on Commercial SRAM Memories and Mixed-Field Characterization of a Latchup Detecti...
б.г.
ISBN отсутствует
Secondo, R.
Analysis of SEL on Commercial SRAM Memories and Mixed-Field Characterization of a Latchup Detecti...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Benfica, J.
Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Benfica, J.
Analysis of SRAM-Based FPGA SEU Sensitivity to Combined EMI and TID-Imprinted Effects
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Baccaro, S.
Analysis of Structural Modifications in *g-Irradiated PbO-B&sub(2)O&sub(3)-SiO&sub(2) Glasses by ...
б.г.
ISBN отсутствует
Baccaro, S.
Analysis of Structural Modifications in *g-Irradiated PbO-B&sub(2)O&sub(3)-SiO&sub(2) Glasses by ...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Lytyvnenko, V. V.
Analysis of the Mechanisms of the High-Current Relativistic Electron Beam Influence on Metallic M...
б.г.
ISBN отсутствует
Lytyvnenko, V. V.
Analysis of the Mechanisms of the High-Current Relativistic Electron Beam Influence on Metallic M...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Van Vuuren, A. J.
Analysis of the Microstructural Evolution of Silicon Nitride Irradiated with Swift Xe Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Van Vuuren, A. J.
Analysis of the Microstructural Evolution of Silicon Nitride Irradiated with Swift Xe Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yan, Y.
Analysis of the TID Induced Failure Modes in NOR and NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Yan, Y.
Analysis of the TID Induced Failure Modes in NOR and NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Peng, L.
Analysis on the Rapid Recovery of Irradiated VDMOSFETs by the Positive High Electric Field Stress
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, L.
Analysis on the Rapid Recovery of Irradiated VDMOSFETs by the Positive High Electric Field Stress
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Jafari, H.
Analytical Modeling for Gamma Radiation Damage on Silicon Photodiodes
б.г.
ISBN отсутствует
Jafari, H.
Analytical Modeling for Gamma Radiation Damage on Silicon Photodiodes
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ito, K.
Analyzing DUE Errors on GPUs with Neutron Irradiation Test and Fault Injection to Control Flow
б.г.
ISBN отсутствует
Ito, K.
Analyzing DUE Errors on GPUs with Neutron Irradiation Test and Fault Injection to Control Flow
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Popov, E. P.
Analyzing Point Defect Polarization in Tungsten and Tungsten Carbide Under High Gamma Irradiation...
б.г.
ISBN отсутствует
Popov, E. P.
Analyzing Point Defect Polarization in Tungsten and Tungsten Carbide Under High Gamma Irradiation...
б.г.
ISBN отсутствует