Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
На полку
Статья
Peng, C.
Investigating the Degradation Mechanisms Caused by the TID Effects in 130 nm PDSOI I/O NMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Peng, C.
Investigating the Degradation Mechanisms Caused by the TID Effects in 130 nm PDSOI I/O NMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Guttilla, A.
Investigation by Thermoluminescence of the Ionization and Annealing Processes in Irradiated Ge-Do...
б.г.
ISBN отсутствует
Guttilla, A.
Investigation by Thermoluminescence of the Ionization and Annealing Processes in Irradiated Ge-Do...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Madadzada, A. I.
Investigation of Atomic Composition and Optical Properties in Multilayer Systems of SiO&sub(2)/Ti...
б.г.
ISBN отсутствует
Madadzada, A. I.
Investigation of Atomic Composition and Optical Properties in Multilayer Systems of SiO&sub(2)/Ti...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sun, Y.
Investigation of Bias Dependence on Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in SiGe HBTs for Space App...
б.г.
ISBN отсутствует
Sun, Y.
Investigation of Bias Dependence on Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in SiGe HBTs for Space App...
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Препринты
Naito, T.
Investigation of Carbon Contamination on SR Irradiated Devices
ISBN отсутствует
Naito, T.
Investigation of Carbon Contamination on SR Irradiated Devices
Серия: KEK
KEK, 2004 г.ISBN отсутствует
Заказать
Статья
Ahlam, M. A.
Investigation of Gamma Radiation Effect on Chemical Properties and Surface Morphology of Some Non...
б.г.
ISBN отсутствует
Ahlam, M. A.
Investigation of Gamma Radiation Effect on Chemical Properties and Surface Morphology of Some Non...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Rezgui, S.
Investigation of Low Dose Rate and Bias Conditions on the Total Dose Tolerance of a CMOS Flash-Ba...
б.г.
ISBN отсутствует
Rezgui, S.
Investigation of Low Dose Rate and Bias Conditions on the Total Dose Tolerance of a CMOS Flash-Ba...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Gao, Y.
Investigation of Negative Bias Effect on Radiation Hardening for Double SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Gao, Y.
Investigation of Negative Bias Effect on Radiation Hardening for Double SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wang, C.
Investigation of Neutron Displacement Effects in Bipolar Amplifiers with Lateral and Substrate p-...
б.г.
ISBN отсутствует
Wang, C.
Investigation of Neutron Displacement Effects in Bipolar Amplifiers with Lateral and Substrate p-...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Eseev, M.
Investigation of Nitrogen and Vacancy Defects in Synthetic Diamond Plates by Positron Annihilatio...
б.г.
ISBN отсутствует
Eseev, M.
Investigation of Nitrogen and Vacancy Defects in Synthetic Diamond Plates by Positron Annihilatio...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Beskrovnyi, A. I.
Investigation of Phase Transitions in Sintered W - 6wt.%B&sub(4)C - 2wt.%TiC - 1wt.%C Alloy Irrad...
б.г.
ISBN отсутствует
Beskrovnyi, A. I.
Investigation of Phase Transitions in Sintered W - 6wt.%B&sub(4)C - 2wt.%TiC - 1wt.%C Alloy Irrad...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Liu, C.
Investigation of Radiation Hardening by Back-Channel Adjustment in PDSOI MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Liu, C.
Investigation of Radiation Hardening by Back-Channel Adjustment in PDSOI MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Madatov, R.
Investigation of Radiation Hardness of Micro-Channel Avalanche Photo Diodes (MAPD)
б.г.
ISBN отсутствует
Madatov, R.
Investigation of Radiation Hardness of Micro-Channel Avalanche Photo Diodes (MAPD)
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Препринты
Didyk, A. Yu.
Investigation of Radiation Resistance of Transistors and Integrated Circuits Using the Heavy Ions...
ISBN отсутствует
Didyk, A. Yu.
Investigation of Radiation Resistance of Transistors and Integrated Circuits Using the Heavy Ions...
Серия: JINR
JINR, 1994 г.ISBN отсутствует
Статья
Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Veeramani, P.
Investigation of Swift Ion Irradiation Effects on Au/CdTe and Au/CdZnTe Schottky Barrier Diode
б.г.
ISBN отсутствует
Veeramani, P.
Investigation of Swift Ion Irradiation Effects on Au/CdTe and Au/CdZnTe Schottky Barrier Diode
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bee, S.-T.
Investigation of the Interaction of Copper(II) Oxide and Electron Beam Irradiation Crosslinkable ...
б.г.
ISBN отсутствует
Bee, S.-T.
Investigation of the Interaction of Copper(II) Oxide and Electron Beam Irradiation Crosslinkable ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nasieka, Iu.
Investigation of the Thermal Annealing Effect on the Defects Structure in *g-Irradiated CdZnTe Cr...
б.г.
ISBN отсутствует
Nasieka, Iu.
Investigation of the Thermal Annealing Effect on the Defects Structure in *g-Irradiated CdZnTe Cr...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, Z.
Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and...
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, Z.
Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ding, L.
Investigation of Total Ionizing Dose Effect and Displacement Damage in 65 nm CMOS Transistors Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
Ding, L.
Investigation of Total Ionizing Dose Effect and Displacement Damage in 65 nm CMOS Transistors Exp...
б.г.
ISBN отсутствует