Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Tonigan, A. M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Tonigan, A. M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Abdullaev, A.
Impact of Swift Heavy Ion-Induced Point Defects on Nanoscale Thermal Transport in ZnO
б.г.
ISBN отсутствует
Abdullaev, A.
Impact of Swift Heavy Ion-Induced Point Defects on Nanoscale Thermal Transport in ZnO
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Arora, R.
Impact of Technology Scaling in Sub-100 nm nMOSFETs on Total-Dose Radiation Response and Hot-Carr...
б.г.
ISBN отсутствует
Arora, R.
Impact of Technology Scaling in Sub-100 nm nMOSFETs on Total-Dose Radiation Response and Hot-Carr...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, R. M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R. M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cecchetto, M.
Impact of Thermal and Intermediate Energy Neutrons on SRAM SEE Rates in the LHC Accelerator
б.г.
ISBN отсутствует
Cecchetto, M.
Impact of Thermal and Intermediate Energy Neutrons on SRAM SEE Rates in the LHC Accelerator
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Luo, Y.
Impact of Total Ionizing Dose on Low Energy Proton Single Event Upsets in Nanometer SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Luo, Y.
Impact of Total Ionizing Dose on Low Energy Proton Single Event Upsets in Nanometer SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Spezzigu, P.
Implementation of a "Design of Experiments" Methodology for the Prediction of Phototransistor Deg...
б.г.
ISBN отсутствует
Spezzigu, P.
Implementation of a "Design of Experiments" Methodology for the Prediction of Phototransistor Deg...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Di Francesca, D.
Implementation of Optical-Fiber Postmortem Dose Measurements: A Proof of Concept
б.г.
ISBN отсутствует
Di Francesca, D.
Implementation of Optical-Fiber Postmortem Dose Measurements: A Proof of Concept
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Glebov, B. L.
Improved Hardness of Single-Crystal Nd*3*+: YAG to Ionizing Radiation via Co-Doping with Cr*3*+
б.г.
ISBN отсутствует
Glebov, B. L.
Improved Hardness of Single-Crystal Nd*3*+: YAG to Ionizing Radiation via Co-Doping with Cr*3*+
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tolleson, B. S.
Improved Model for Excess Base Current in Irradiated Lateral p-n-p Bipolar Junction Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Tolleson, B. S.
Improved Model for Excess Base Current in Irradiated Lateral p-n-p Bipolar Junction Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, L.
Improved Model for Ionization-Induced Surface Recombination Current in p-n-p BJTs
б.г.
ISBN отсутствует
Li, L.
Improved Model for Ionization-Induced Surface Recombination Current in p-n-p BJTs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Xu, L.
Improved Single-Event Transient Hardness in Tunnel-Diode Body-Contact SOI nMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Xu, L.
Improved Single-Event Transient Hardness in Tunnel-Diode Body-Contact SOI nMOS
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hao, Y.
Improved Wear Resistance of Al-15Si Alloy with a High Current Pulsed Electron Beam Treatment
б.г.
ISBN отсутствует
Hao, Y.
Improved Wear Resistance of Al-15Si Alloy with a High Current Pulsed Electron Beam Treatment
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lopez-Suarez, A.
Improvement of Hydrogen Absorption in Ti Induced by Ion Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Lopez-Suarez, A.
Improvement of Hydrogen Absorption in Ti Induced by Ion Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Iwamoto, Y.
Improvement of Radiation Damage Calculation in PHITS and Tests for Copper and Tungsten Irradiated...
б.г.
ISBN отсутствует
Iwamoto, Y.
Improvement of Radiation Damage Calculation in PHITS and Tests for Copper and Tungsten Irradiated...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Afanasiev, S. V.
Improvement of Radiation Hardness of the Sampling Calorimeters Based on Plastic Scintillators
б.г.
ISBN отсутствует
Afanasiev, S. V.
Improvement of Radiation Hardness of the Sampling Calorimeters Based on Plastic Scintillators
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zheng, B.
Improvement on Thermoelectric Properties of Multilayered Si&sub(1-x)Ge&sub(x)/Si by Ion Beam Bomb...
б.г.
ISBN отсутствует
Zheng, B.
Improvement on Thermoelectric Properties of Multilayered Si&sub(1-x)Ge&sub(x)/Si by Ion Beam Bomb...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sirena, M.
Improving the I&sub(c)R&sub(n) Product and the Reproducibility of High T&sub(c) Josephson Junctio...
б.г.
ISBN отсутствует
Sirena, M.
Improving the I&sub(c)R&sub(n) Product and the Reproducibility of High T&sub(c) Josephson Junctio...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Huang, H.
Improving Total Dose Tolerance of Buried Oxides in SOI Wafers by Multiple-Step Si*+ Implantation
б.г.
ISBN отсутствует
Huang, H.
Improving Total Dose Tolerance of Buried Oxides in SOI Wafers by Multiple-Step Si*+ Implantation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Okuji, S.
In Situ Analysis of Ion-Induced Polymer Surface Modification Using Secondary Ion Mass Spectroscopy
б.г.
ISBN отсутствует
Okuji, S.
In Situ Analysis of Ion-Induced Polymer Surface Modification Using Secondary Ion Mass Spectroscopy
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Vibbert, S. T.
In Situ Measurement of TID-Induced Leakage Using On-Chip Frequency Modulation
б.г.
ISBN отсутствует
Vibbert, S. T.
In Situ Measurement of TID-Induced Leakage Using On-Chip Frequency Modulation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chilingarian, A.
In Situ Measurements of the Runaway Breakdown (RB) on Aragats Mountain
б.г.
ISBN отсутствует
Chilingarian, A.
In Situ Measurements of the Runaway Breakdown (RB) on Aragats Mountain
б.г.
ISBN отсутствует