Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Aguiar, Y. Q.
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
б.г.
ISBN отсутствует
Aguiar, Y. Q.
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Artola, L.
Impact of D-Flip-Flop Architectures and Designs on Single-Event Upset Induced by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Artola, L.
Impact of D-Flip-Flop Architectures and Designs on Single-Event Upset Induced by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Rezaei, M.
Impact of Dynamic Voltage Scaling on SEU Sensitivity of COTS Bulk SRAMs and A-LPSRAMs Against Pro...
б.г.
ISBN отсутствует
Rezaei, M.
Impact of Dynamic Voltage Scaling on SEU Sensitivity of COTS Bulk SRAMs and A-LPSRAMs Against Pro...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ismayil
Impact of Electron-Beam Irradiation on Free-Volume Related Microstructural Properties of PVA: NaB...
б.г.
ISBN отсутствует
Ismayil
Impact of Electron-Beam Irradiation on Free-Volume Related Microstructural Properties of PVA: NaB...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Koul, D. K.
Impact of Firing on the OSL Luminescence Properties of Natural Quartz: A Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Koul, D. K.
Impact of Firing on the OSL Luminescence Properties of Natural Quartz: A Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Emeliyanov, V. V.
Impact of Heavy Ion Energy on Charge Yield in Silicon Dioxide
б.г.
ISBN отсутствует
Emeliyanov, V. V.
Impact of Heavy Ion Energy on Charge Yield in Silicon Dioxide
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Vepsalainen, A. P.
Impact of Ionizing Radiation on Superconducting Qubit Coherence
б.г.
ISBN отсутствует
Vepsalainen, A. P.
Impact of Ionizing Radiation on Superconducting Qubit Coherence
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Adam, W.
Impact of Low-Dose Electron Irradiation on n*+p Silicon Strip Sensors
б.г.
ISBN отсутствует
Adam, W.
Impact of Low-Dose Electron Irradiation on n*+p Silicon Strip Sensors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Roig, F.
Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Roig, F.
Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tanaka, T.
Impact of Neutron-Induced SEU in FPGA CRAM on Image-Based Lane Tracking for Autonomous Driving: f...
б.г.
ISBN отсутствует
Tanaka, T.
Impact of Neutron-Induced SEU in FPGA CRAM on Image-Based Lane Tracking for Autonomous Driving: f...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wei, J.
Impact of Ring-Shaped Collector Contact on Total Ionizing Dose Susceptibility of Vertical n-p-n B...
б.г.
ISBN отсутствует
Wei, J.
Impact of Ring-Shaped Collector Contact on Total Ionizing Dose Susceptibility of Vertical n-p-n B...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tonigan, A. M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Tonigan, A. M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abdullaev, A.
Impact of Swift Heavy Ion-Induced Point Defects on Nanoscale Thermal Transport in ZnO
б.г.
ISBN отсутствует
Abdullaev, A.
Impact of Swift Heavy Ion-Induced Point Defects on Nanoscale Thermal Transport in ZnO
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Arora, R.
Impact of Technology Scaling in Sub-100 nm nMOSFETs on Total-Dose Radiation Response and Hot-Carr...
б.г.
ISBN отсутствует
Arora, R.
Impact of Technology Scaling in Sub-100 nm nMOSFETs on Total-Dose Radiation Response and Hot-Carr...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, R. M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R. M.
Impact of Temporal Masking of Flip-Flop Upsets on Soft Error Rates of Sequential Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Martinella, C.
Impact of Terrestrial Neutrons on the Reliability of SiC VD-MOSFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Cecchetto, M.
Impact of Thermal and Intermediate Energy Neutrons on SRAM SEE Rates in the LHC Accelerator
б.г.
ISBN отсутствует
Cecchetto, M.
Impact of Thermal and Intermediate Energy Neutrons on SRAM SEE Rates in the LHC Accelerator
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Luo, Y.
Impact of Total Ionizing Dose on Low Energy Proton Single Event Upsets in Nanometer SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Luo, Y.
Impact of Total Ionizing Dose on Low Energy Proton Single Event Upsets in Nanometer SRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Li, K.
Impacts of Through-Silicon Vias on Total-Ionizing-Dose Effects and Low-Frequency Noise in FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Spezzigu, P.
Implementation of a "Design of Experiments" Methodology for the Prediction of Phototransistor Deg...
б.г.
ISBN отсутствует
Spezzigu, P.
Implementation of a "Design of Experiments" Methodology for the Prediction of Phototransistor Deg...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Di Francesca, D.
Implementation of Optical-Fiber Postmortem Dose Measurements: A Proof of Concept
б.г.
ISBN отсутствует
Di Francesca, D.
Implementation of Optical-Fiber Postmortem Dose Measurements: A Proof of Concept
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Glebov, B. L.
Improved Hardness of Single-Crystal Nd*3*+: YAG to Ionizing Radiation via Co-Doping with Cr*3*+
б.г.
ISBN отсутствует
Glebov, B. L.
Improved Hardness of Single-Crystal Nd*3*+: YAG to Ionizing Radiation via Co-Doping with Cr*3*+
б.г.
ISBN отсутствует