Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Casse, G.
Evaluation of Floating Zone and Epitaxial Planar Silicon Detectors With Different Substrate Thick...
б.г.
ISBN отсутствует
Casse, G.
Evaluation of Floating Zone and Epitaxial Planar Silicon Detectors With Different Substrate Thick...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Irom, F.
Evaluation of Mechanisms in TID Degradation and SEE Susceptibility of Single- and Multi-Level Hig...
б.г.
ISBN отсутствует
Irom, F.
Evaluation of Mechanisms in TID Degradation and SEE Susceptibility of Single- and Multi-Level Hig...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ye, Z.
Evaluation of Radiation Effects in RRAM-Based Neuromorphic Computing System for Inference
б.г.
ISBN отсутствует
Ye, Z.
Evaluation of Radiation Effects in RRAM-Based Neuromorphic Computing System for Inference
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mori, R.
Evaluation of the Performance of Irradiated Silicon Strip Sensors for the Forward Detector of the...
б.г.
ISBN отсутствует
Mori, R.
Evaluation of the Performance of Irradiated Silicon Strip Sensors for the Forward Detector of the...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lingis, D.
Evaluation of the Primary Displacement Damage in the Neutron Irradiated RBMK-1500 Graphite
б.г.
ISBN отсутствует
Lingis, D.
Evaluation of the Primary Displacement Damage in the Neutron Irradiated RBMK-1500 Graphite
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lindoso, A.
Evaluation of the Suitability of NEON SIMD Microprocessor Extensions Under Proton Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Lindoso, A.
Evaluation of the Suitability of NEON SIMD Microprocessor Extensions Under Proton Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Carna, M.
Evaluation of the Timepix Chip Radiation Hardness Using a *6*0Co Source
б.г.
ISBN отсутствует
Carna, M.
Evaluation of the Timepix Chip Radiation Hardness Using a *6*0Co Source
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ibrayeva, A.
Evaluation of Threshold Conditions for Latent Track Formation in Nanocrystalline Y&sub(2)Ti&sub(2...
б.г.
ISBN отсутствует
Ibrayeva, A.
Evaluation of Threshold Conditions for Latent Track Formation in Nanocrystalline Y&sub(2)Ti&sub(2...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Privat, A.
Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Privat, A.
Evidence of Interface Trap Build-Up in Irradiated 14-nm Bulk FinFET Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Velazco, R.
Evidence of the Robustness of a COTS Soft-Error Free SRAM to Neutron Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Velazco, R.
Evidence of the Robustness of a COTS Soft-Error Free SRAM to Neutron Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wood, D.
Evolution and Impact of Defects in a p-Channel CCD After Cryogenic Proton-Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Wood, D.
Evolution and Impact of Defects in a p-Channel CCD After Cryogenic Proton-Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tang, Y.
Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic D...
б.г.
ISBN отсутствует
Tang, Y.
Evolution and Mechanism of P-GaN Films Under Proton Irradiation and Its Influence on Electronic D...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Diver, A.
Evolution of Amorphous Structure Under Irradiation: Zircon Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Diver, A.
Evolution of Amorphous Structure Under Irradiation: Zircon Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, X.
Evolution of Deep Level Centers in NPN Transistors Following 35 MeV Si Ion Irradiations With High...
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Evolution of Deep Level Centers in NPN Transistors Following 35 MeV Si Ion Irradiations With High...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Onofri, C.
Evolution of Extended Defects in Polycrystalline UO&sub(2) under Heavy Ion Irradiation: Combined...
б.г.
ISBN отсутствует
Onofri, C.
Evolution of Extended Defects in Polycrystalline UO&sub(2) under Heavy Ion Irradiation: Combined...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Dong, L.
Evolution of Ionization-Induced Defects in GLPNP Bipolar Transistors at Different Temperatures
б.г.
ISBN отсутствует
Dong, L.
Evolution of Ionization-Induced Defects in GLPNP Bipolar Transistors at Different Temperatures
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bizyukov, I.
Evolution of the 2D Surface Structure of a Silicon Pitch Grating Under Argon Ion Bombardment: Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
Bizyukov, I.
Evolution of the 2D Surface Structure of a Silicon Pitch Grating Under Argon Ion Bombardment: Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Fleetwood, D. M.
Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
б.г.
ISBN отсутствует
Fleetwood, D. M.
Evolution of Total Ionizing Dose Effects in MOS Devices with Moore’s Law Scaling
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Tuan, P. L.
Examination of the Native Oxide Layer Using the RBS/NR Method on the Surface of GaAs Samples Befo...
б.г.
ISBN отсутствует
Tuan, P. L.
Examination of the Native Oxide Layer Using the RBS/NR Method on the Surface of GaAs Samples Befo...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Monce, M. N.
Excitations from Dissociative Fragments Produced in H*++H&sub(2)O Collisions
б.г.
ISBN отсутствует
Monce, M. N.
Excitations from Dissociative Fragments Produced in H*++H&sub(2)O Collisions
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Olejniczak, A.
Expansion Behavior of HOPG Under Swift-Heavy-Ion Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Olejniczak, A.
Expansion Behavior of HOPG Under Swift-Heavy-Ion Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lunardi, C.
Experimental and Analytical Analysis of Sorting Algorithms Error Criticality for HPC and Large Se...
б.г.
ISBN отсутствует
Lunardi, C.
Experimental and Analytical Analysis of Sorting Algorithms Error Criticality for HPC and Large Se...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Korkian, G.
Experimental and Analytical Study of the Responses of Nanoscale Devices to Neutrons Impinging at ...
б.г.
ISBN отсутствует
Korkian, G.
Experimental and Analytical Study of the Responses of Nanoscale Devices to Neutrons Impinging at ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Alayan, M.
Experimental and Simulation Studies of the Effects of Heavy-Ion Irradiation on HfO&sub(2)-Based R...
б.г.
ISBN отсутствует
Alayan, M.
Experimental and Simulation Studies of the Effects of Heavy-Ion Irradiation on HfO&sub(2)-Based R...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Samaras, A.
Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Samaras, A.
Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует