Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
Печать списка
Доступно
1 из 1
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
Рубрика
- Название:
- С 349 - Дозиметрия и физика защиты
- См. также:
- Dosimetry and Protection Physics. Radiation Effects. Biological Effects of Radiations
- Название:
- С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков
- Название:
- С 349 б - Дозиметрическая и радиометрическая аппаратура
- Название:
- С 349 в - Защита от излучений. Защитные приспособления и материалы. Дозиметрическая характеристика излучателей
- Название:
- С 349 г - Радиоактивные загрязнения и активация воздуха, газов, воды и окружающих материалов. Дезактивация
- Название:
- С 349 д - Биологическое действие излучений$
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Статья
Wang, C.
Investigation of Neutron Displacement Effects in Bipolar Amplifiers with Lateral and Substrate p-...
б.г.
ISBN отсутствует
Wang, C.
Investigation of Neutron Displacement Effects in Bipolar Amplifiers with Lateral and Substrate p-...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Eseev, M.
Investigation of Nitrogen and Vacancy Defects in Synthetic Diamond Plates by Positron Annihilatio...
б.г.
ISBN отсутствует
Eseev, M.
Investigation of Nitrogen and Vacancy Defects in Synthetic Diamond Plates by Positron Annihilatio...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Sellakumar, P.
Investigation of Optical Scanning Protocol for X-Ray Computed Tomography Polymer Gel Dosimetry
б.г.
ISBN отсутствует
Sellakumar, P.
Investigation of Optical Scanning Protocol for X-Ray Computed Tomography Polymer Gel Dosimetry
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Beskrovnyi, A. I.
Investigation of Phase Transitions in Sintered W - 6wt.%B&sub(4)C - 2wt.%TiC - 1wt.%C Alloy Irrad...
б.г.
ISBN отсутствует
Beskrovnyi, A. I.
Investigation of Phase Transitions in Sintered W - 6wt.%B&sub(4)C - 2wt.%TiC - 1wt.%C Alloy Irrad...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Liu, C.
Investigation of Radiation Hardening by Back-Channel Adjustment in PDSOI MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Liu, C.
Investigation of Radiation Hardening by Back-Channel Adjustment in PDSOI MOSFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Madatov, R.
Investigation of Radiation Hardness of Micro-Channel Avalanche Photo Diodes (MAPD)
б.г.
ISBN отсутствует
Madatov, R.
Investigation of Radiation Hardness of Micro-Channel Avalanche Photo Diodes (MAPD)
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
1 из 1
Препринты
Didyk, A. Yu.
Investigation of Radiation Resistance of Transistors and Integrated Circuits Using the Heavy Ions...
ISBN отсутствует
Didyk, A. Yu.
Investigation of Radiation Resistance of Transistors and Integrated Circuits Using the Heavy Ions...
Серия: JINR
JINR, 1994 г.ISBN отсутствует
Статья
Shubayr, N.
Investigation of Radiation Risks Based on the Clinical Findings from Head CT Scans in Trauma
б.г.
ISBN отсутствует
Shubayr, N.
Investigation of Radiation Risks Based on the Clinical Findings from Head CT Scans in Trauma
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ferguson, D.
Investigation of Staff Finger Doses During Quality Control of FDG Production
б.г.
ISBN отсутствует
Ferguson, D.
Investigation of Staff Finger Doses During Quality Control of FDG Production
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Veeramani, P.
Investigation of Swift Ion Irradiation Effects on Au/CdTe and Au/CdZnTe Schottky Barrier Diode
б.г.
ISBN отсутствует
Veeramani, P.
Investigation of Swift Ion Irradiation Effects on Au/CdTe and Au/CdZnTe Schottky Barrier Diode
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kraxner, A.
Investigation of the Influence of Temperature and Annealing on the Radiation Hardness of Silicon ...
б.г.
ISBN отсутствует
Kraxner, A.
Investigation of the Influence of Temperature and Annealing on the Radiation Hardness of Silicon ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yeom, Y. S.
Investigation of the Influence of Thyroid Location on Iodine-131 S Values
б.г.
ISBN отсутствует
Yeom, Y. S.
Investigation of the Influence of Thyroid Location on Iodine-131 S Values
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bee, S.-T.
Investigation of the Interaction of Copper(II) Oxide and Electron Beam Irradiation Crosslinkable ...
б.г.
ISBN отсутствует
Bee, S.-T.
Investigation of the Interaction of Copper(II) Oxide and Electron Beam Irradiation Crosslinkable ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Toktamis, H.
Investigation of the Stability of the Radiation Sensitivity of TL Peaks of Quartz Extracted from ...
б.г.
ISBN отсутствует
Toktamis, H.
Investigation of the Stability of the Radiation Sensitivity of TL Peaks of Quartz Extracted from ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nasieka, Iu.
Investigation of the Thermal Annealing Effect on the Defects Structure in *g-Irradiated CdZnTe Cr...
б.г.
ISBN отсутствует
Nasieka, Iu.
Investigation of the Thermal Annealing Effect on the Defects Structure in *g-Irradiated CdZnTe Cr...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Eliyahu, I.
Investigation of the TL Characteristics of Composite Peak 5 in the Glow Curve of LiF:Mg,Ti (TLD-1...
б.г.
ISBN отсутствует
Eliyahu, I.
Investigation of the TL Characteristics of Composite Peak 5 in the Glow Curve of LiF:Mg,Ti (TLD-1...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kaur, M.
Investigation of Thermoluminescence Characteristics of Y&sub(2)O&sub(3):Er*3*+ Nanophosphors
б.г.
ISBN отсутствует
Kaur, M.
Investigation of Thermoluminescence Characteristics of Y&sub(2)O&sub(3):Er*3*+ Nanophosphors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, Z.
Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and...
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, Z.
Investigation of Threshold Ion Range for Accurate Single Event Upset Measurements in Both SOI and...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ding, L.
Investigation of Total Ionizing Dose Effect and Displacement Damage in 65 nm CMOS Transistors Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
Ding, L.
Investigation of Total Ionizing Dose Effect and Displacement Damage in 65 nm CMOS Transistors Exp...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Заказать