Электронный каталог
👓
eng
|
rus
Научно-техническая библиотека ОИЯИ
Режим работы с 9:00 до 18:00
Контактная информация тел.216-27-13
abonement@jinr.ru
Поиск :
Новые поступления
Простой поиск
Расширенный поиск
Авторы
Издательства
Серии
Тезаурус (Рубрики)
Помощь
Личный кабинет :
Штрих-код
Пароль
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> сканирующая зондовая микроскопия
Рубрика
Название:
сканирующая зондовая микроскопия
Печать списка
Связанные описания:
Отобрать для печати:
страницу
|
инверсия
|
сброс
|
печать
(
0
)
Доступно
1 из 1
Книга
Богатство наномира: фоторепортаж из глубин вещества
Серия:
Нанотехнологии
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 г.
ISBN 978-5-9963010-8-9
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Вып.3: .
2015 г.
ISBN 978-5-94836-422-3
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Сергеев, Алексей Георгиевич
Нанометрология
Логос, 2011 г.
ISBN 978-5-9870449-4-0
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Головин, Юрий Иванович
Наномир без формул
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011 г.
ISBN 978-5-9963029-2-5
полный текст
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Цао, Гочжун
Наноструктуры и наноматериалы: синтез, свойства и применение
Серия:
Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-24-2
полный текст
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Получение и исследование наноструктур: Лабораторный практикум по нанотехнологиям
Серия:
Нанотехнологии
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2010 г.
ISBN отсутствует
полный текст
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Т.2. : .
2010 г.
ISBN 978-5-948362-63-2
полный текст
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Кульбачинский, Владимир Анатольевич
Физика наносистем
Физматлит, 2022 г.
ISBN 978-5-9221-1913-9
Заказать
На полку
Доступно
1 из 1
Книга
Альфорд, Терри Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Серия:
Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-915222-25-9
полный текст
Заказать
На полку