Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Kolibal, M. - TOF-LEIS Spectra of Ga/Si: Peak Shape Analysis
Kolibal, M. - TOF-LEIS Spectra of Ga/Si: Peak Shape Analysis
Статья
Автор: Kolibal, M.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: TOF-LEIS Spectra of Ga/Si: Peak Shape Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Kolibal, M.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: TOF-LEIS Spectra of Ga/Si: Peak Shape Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kolibal, M.
TOF-LEIS Spectra of Ga/Si: Peak Shape Analysis / M.Kolibal, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2007. – Vol.265, No.2. – p.569-575. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2007.09.038. – Bibliogr.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов
Kolibal, M.
TOF-LEIS Spectra of Ga/Si: Peak Shape Analysis / M.Kolibal, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2007. – Vol.265, No.2. – p.569-575. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2007.09.038. – Bibliogr.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов