Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Smentkowski, V. S. - Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: A Powerful High Throughput Screening Tool
Smentkowski, V. S. - Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: A Powerful High Throughput Screening Tool
Статья
Автор: Smentkowski, V. S.
Review of Scientific Instruments: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: A Powerful High Throughput Screening Tool
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Smentkowski, V. S.
Review of Scientific Instruments: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: A Powerful High Throughput Screening Tool
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Smentkowski, V.S.
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: A Powerful High Throughput Screening Tool / V.S.Smentkowski, S.G.Ostrowski // Review of Scientific Instruments. – 2007. – Vol.78, No.7. – p.072215. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2755693. – Bibliogr.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1п - Методика по времени пролета
Smentkowski, V.S.
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry: A Powerful High Throughput Screening Tool / V.S.Smentkowski, S.G.Ostrowski // Review of Scientific Instruments. – 2007. – Vol.78, No.7. – p.072215. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2755693. – Bibliogr.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1п - Методика по времени пролета
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Review of Scientific Instruments Vol.78, No.7
American Institute of Physics, 07/2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ
Review of Scientific Instruments Vol.78, No.7
American Institute of Physics, 07/2007 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ