Электронный каталог

Статья

Toyama, T.
Electroreflectance Study of Silicon Nanocrystals / T.Toyama, H.Okamoto // Journal of Physics: Condensed Matter. – 2007. – Vol.19, No.44. – p.445005. – URL: http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/19/44/445005. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$