Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Faraci, G. - Xe Nanocrystals in Si Studied by X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy
Faraci, G. - Xe Nanocrystals in Si Studied by X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Автор: Faraci, G.
Physical Review B: Xe Nanocrystals in Si Studied by X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Faraci, G.
Physical Review B: Xe Nanocrystals in Si Studied by X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Faraci, G.
Xe Nanocrystals in Si Studied by X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy / G.Faraci, [et al.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2007. – Vol.76, No.3. – p.035423. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.76.035423. – Bibliogr.:26.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Faraci, G.
Xe Nanocrystals in Si Studied by X-Ray Absorption Fine Structure Spectroscopy / G.Faraci, [et al.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2007. – Vol.76, No.3. – p.035423. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.76.035423. – Bibliogr.:26.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей