Электронный каталог

Статья

Zubiaga, A.
Positron Annihilation for the Determination of Thickness and Defect Profile in Thin Semiconductor Layers / A.Zubiaga, [a.o.] // Physical Review B : Condensed Matter and Materials Physics. – 2007. – Vol.75, No.20. – p.205305. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.75.205305. – Bibliorg.:10.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.3 - Образование электронно-позитронных пар. Позитрон, позитроний. Взаимодействие позитрона с веществом