Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Кларк, Эшли Р. - Микроскопические методы исследования материалов
Кларк, Эшли Р. - Микроскопические методы исследования материалов
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов
Серия: Мир материалов и технологий
Издательство: Техносфера, 2007 г.
ISBN 5-948361-21-7
Автор: Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов
Серия: Мир материалов и технологий
Издательство: Техносфера, 2007 г.
ISBN 5-948361-21-7
Заказать 
На полку
Книга
С373 К-474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Эшли Р.Кларк, Колин Н.Эберхардт ; Пер. с англ.: С.Л.Баженов. – М. : Техносфера, 2007. – 371 с. : ил. – (Мир материалов и технологий). – Библиогр.: с.368-371. – Пер. изд.: Microscopy Techniques for Materials Science/ Clarke A.R., Eberhardt C.N. - Cambridge, 2002. – ISBN 5-948361-21-7.
С373
Индексный (книги) = С 373 - Оптические приборы. Геометрическая оптика. Теория оптических систем и оптических изображений. Оптоэлектроника. Аберрация оптических систем: сферическая,хроматографическая, астигматизм и др. виды аберрации
С373 К-474
Кларк, Эшли Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Эшли Р.Кларк, Колин Н.Эберхардт ; Пер. с англ.: С.Л.Баженов. – М. : Техносфера, 2007. – 371 с. : ил. – (Мир материалов и технологий). – Библиогр.: с.368-371. – Пер. изд.: Microscopy Techniques for Materials Science/ Clarke A.R., Eberhardt C.N. - Cambridge, 2002. – ISBN 5-948361-21-7.
С373
Индексный (книги) = С 373 - Оптические приборы. Геометрическая оптика. Теория оптических систем и оптических изображений. Оптоэлектроника. Аберрация оптических систем: сферическая,хроматографическая, астигматизм и др. виды аберрации
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЦБ | 1 | 1 | 1 | Заказать |