Электронный каталог

Статья

International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (8; 2006; Saint-Petersburg) : [Proc.] ..., Saint-Petersburg, Russia, June 11-14, 2006 (Продолжение. Начало см.2007, Т.41, No.4) // Физика и техника полупроводников. – 2007. – Т.41,No.5. – p.515-538. – URL: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/ftp/2007/05/.

04


Индексный (книги) = С 36.71 - Физика полупроводников. Структура полупроводников. Кристаллическая решетка полупроводников. Структурный анализ, дефекты, твердые растворы полупроводников. Аморфные полупроводники. Тонкие слои полупроводников. Радиационные эффекты в полупроводниках. Механические свойства полупроводников. Электрические и магнитные свойства полупроводников. Тепловые свойства полупроводников. Кинетические явления в полупроводниках (фазовые равновесия, фазовые превращения, теплоемкость, теплопроводность, диффузия и самодиффузия)
Географический = Saint-Petersburg, Russia