Электронный каталог

Статья

Schormann, J.
In situ Growth Regime Characterization of Cubic Gan Using Reflection High Energy Electron Diffraction / J.Schormann, [a.o.] // Applied Physics Letters. – 2007. – Vol.90, No.4. – p.041918. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2432293. – Bibliogr.:12.



Спец.(статьи,препринты) = Ц 846 - Оптико-электронные системы обработки информации