Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ishii, M. - Nanometer Scale X-Ray Absorption Spectroscopy and Chemical States Mapping of Ultra Thin Oxides on...
Ishii, M. - Nanometer Scale X-Ray Absorption Spectroscopy and Chemical States Mapping of Ultra Thin Oxides on...
Статья
Автор: Ishii, M.
Applied Physics Letters: Nanometer Scale X-Ray Absorption Spectroscopy and Chemical States Mapping of Ultra Thin Oxides on...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Ishii, M.
Applied Physics Letters: Nanometer Scale X-Ray Absorption Spectroscopy and Chemical States Mapping of Ultra Thin Oxides on...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ishii, M.
Nanometer Scale X-Ray Absorption Spectroscopy and Chemical States Mapping of Ultra Thin Oxides on Silicon Using Electrostatic Force Microscopy / M.Ishii, [et al.] // Applied Physics Letters. – 2007. – Vol.90, No.6. – p.063101. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2437073. – Bibliogr.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Ishii, M.
Nanometer Scale X-Ray Absorption Spectroscopy and Chemical States Mapping of Ultra Thin Oxides on Silicon Using Electrostatic Force Microscopy / M.Ishii, [et al.] // Applied Physics Letters. – 2007. – Vol.90, No.6. – p.063101. – URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.2437073. – Bibliogr.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей