Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Евсеев, С. - Влияние облучения альфа-частицами на характеристики SiC- и Si-детекторов
Евсеев, С. - Влияние облучения альфа-частицами на характеристики SiC- и Si-детекторов

Книга (аналит. описание)
Автор: Евсеев, С.
Nucleus -2025. LXXV International Conference: Nuclear Physics and Elementary Particle Physics. Nuclear Physics Technologies, Saint Petersburg, 1-6 July, 2025: Влияние облучения альфа-частицами на характеристики SiC- и Si-детекторов
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Евсеев, С.
Nucleus -2025. LXXV International Conference: Nuclear Physics and Elementary Particle Physics. Nuclear Physics Technologies, Saint Petersburg, 1-6 July, 2025: Влияние облучения альфа-частицами на характеристики SiC- и Si-детекторов
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Евсеев, С.
Влияние облучения альфа-частицами на характеристики SiC- и Si-детекторов / С.Евсеев, М.Довбненко, Н.Замятин, Ю.Копылов, С.Розов, В.Сандуковский, [и др.]. – Текст : электронный // Nucleus -2025. LXXV International Conference: Nuclear Physics and Elementary Particle Physics. Nuclear Physics Technologies, Saint Petersburg, 1-6 July, 2025 : Book of Abstracts. – Saint-Petersburg, 2025. – С. 132. – URL: http://inis.jinr.ru/sl/NTBLIB/Nucleus-2025-P132.pdf. – Библиогр.: 3.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2025
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Евсеев, С.
Влияние облучения альфа-частицами на характеристики SiC- и Si-детекторов / С.Евсеев, М.Довбненко, Н.Замятин, Ю.Копылов, С.Розов, В.Сандуковский, [и др.]. – Текст : электронный // Nucleus -2025. LXXV International Conference: Nuclear Physics and Elementary Particle Physics. Nuclear Physics Technologies, Saint Petersburg, 1-6 July, 2025 : Book of Abstracts. – Saint-Petersburg, 2025. – С. 132. – URL: http://inis.jinr.ru/sl/NTBLIB/Nucleus-2025-P132.pdf. – Библиогр.: 3.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2025
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
На полку