Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Большаков, В.О. - Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на c-Si методом спектральной эллипсоме...
Большаков, В.О. - Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на c-Si методом спектральной эллипсоме...
Статья
Автор: Большаков, В.О.
Оптика и спектроскопия: Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на c-Si методом спектральной эллипсоме...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Большаков, В.О.
Оптика и спектроскопия: Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на c-Si методом спектральной эллипсоме...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Большаков, В.О.
Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на c-Si методом спектральной эллипсометрии / В.О.Большаков, [и др.] // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 12. – С. 1240-1243. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/59801. – Библиогр.: 18.
Спец.(статьи,препринты) = С 37 - Оптика$
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Большаков, В.О.
Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на c-Si методом спектральной эллипсометрии / В.О.Большаков, [и др.] // Оптика и спектроскопия. – 2024. – Т. 132, № 12. – С. 1240-1243. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/59801. – Библиогр.: 18.
Спец.(статьи,препринты) = С 37 - Оптика$
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Привязано к:
Доступно
1 из 1