Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Juste, A. - Measurement of the Single Event Upset Cross Section in the SVX IIe Chip
Juste, A. - Measurement of the Single Event Upset Cross Section in the SVX IIe Chip
Доступно
1 из 1
1 из 1
Препринты
Автор: Juste, A.
Measurement of the Single Event Upset Cross Section in the SVX IIe Chip
Серия: FERMILAB-Conf
Издательство: FERMILAB, 2003 г.
ISBN отсутствует
Автор: Juste, A.
Measurement of the Single Event Upset Cross Section in the SVX IIe Chip
Серия: FERMILAB-Conf
Издательство: FERMILAB, 2003 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Препринты
3
Juste, A.
Measurement of the Single Event Upset Cross Section in the SVX IIe Chip / A.Juste, [a.o.]. – Batavia : FERMILAB, 2003. – 26p. : il. – (FERMILAB-Conf, ISSN 0418-9833 ; 03/008-E). – URL: http://www-spires.fnal.gov/spires/find/hep?key=5456517. – Bibliogr.p.16-18.
3
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
3
Juste, A.
Measurement of the Single Event Upset Cross Section in the SVX IIe Chip / A.Juste, [a.o.]. – Batavia : FERMILAB, 2003. – 26p. : il. – (FERMILAB-Conf, ISSN 0418-9833 ; 03/008-E). – URL: http://www-spires.fnal.gov/spires/find/hep?key=5456517. – Bibliogr.p.16-18.
3
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |