Электронный каталог

Статья

Dewitte, H.
Hours-Long Transient Leakage Current in MOS Structures Induced by High Total-Ionizing-Dose / H.Dewitte, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.7, Pt.1. – P.1428-1436. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3150407. – Bibliogr.:33.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$